Välj din region och ditt språk

OK

Meny

Testsystem för halvledare för hög effekt

Hitachi Energy konstruerar, tillverkar och erbjuder anpassade CE-kompatibla testsystem för effekthalvledare.

Hitachi Energy erbjuder testsystem för olika miljöer som forskning och utveckling, laboratorier, produktion eller felanalys. Högsta kvalitetssäkring, säker hantering samt service på distans eller på plats garanteras.

Testsystem för halvledare för hög effekt

Hitachi Energy erbjuder statiska och dynamiska produktionstestsystem för de flesta typerna av halvledarenheter. De kan hantera mikrochip, substrat, underordnade moduler, moduler, wafer och press-pack-enheter. System för tester av tillförlitlighet i omvänd polarisering vid hög temperatur, intermittent drifttid eller tester av överspänningsström är också tillgängliga. Extra testområden omfattar klämning, kondensatorurladdning, förvärmning och enheter för datainsamling och parameterextrahering, såväl som programmeringsbara IGBT- och tyristorgrindenheter.

Parametrar

Hitachi Energy stestsystem täcker upp till 14 kV och 10 kA och använder en justerbar lågstrålningsinduktans. Under testningen kan den fastklämda enheten som testas (DUT ) värmas upp till exakt 185 °C för produktionssystem eller kylas ned till -40 °C i en miljökammare för tekniska system. Klämenheterna kan hantera enheter upp till 240 mm diameter och kan anbringa en klämkraft på upp till 240 kN.

Automation

Våra testsystem är utformade för enkel integrering i automatiserad hanteringsutrustning. Testsystemets programvara är kompatibel med kommersiella styrsystem som MES (tillverkningsexekveringssystem) och CAQ (datorstödd kvalitetssäkring).

  Tyristor och diod statisk/dynamisk GTO och statisk diod GTO och dynamisk diod

Blockerande spänning, växelström eller likström

X X X
Grindegenskaper X X  
On-state, forward voltage
X X  
Reverse recovery charge X   X
Kritisk dV/dt X    
Circuit-commutated turn-off time X    
Slå på / slå av   X X

Tillförlitlighetstestsystem

  • Omvänd polarisering vid hög temperatur
  • Intermittent livslängd/strömcykling
  • Överström
  • Frekvenstestare

Hjälpenhet

  • Klämenhet
  • Kondensatorurladdningsenhet
  • Förvärmningsenhet
  • Programmeringsbara IGBT- och tyristorgrindenheter
  • Datainsamlings- och parameterextraheringsenheter

Kontakta oss

Skicka in din förfrågan så kontaktar vi dig